Микроскоп создан для исследования облученных образцов (опытный образец для НИИАР, г. Димитровград).

СТМ работает в «горячей» камере с различными слабо окисляющимися электропроводящими образцами, в том числе имеющими высокий радиационный фон. Микроскоп рассчитывается для возможности дистанционной установки в него образцов с применением механических манипуляторов, имеет радиационно-стойкую электронику, реализует увеличение до 1 млн. крат и разрешение на уровне 10-20  Å. Планируется разработка стойкого к радиации атомно-силового режима работы, что позволит работать с диэлектриками и быстро окисляющимися металлами.

Зондовый сканирующий микроскоп «СТМ-КАМ» для работы в «горячей» камере.