Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode NanoScope III (Veeco)


	Результаты исследований графитовых пленок

режимы работы	tunneling; contact mode AFM; tapping mode AFM; tapping mode in fluids; lateral force mode; magnetic force imaging; electric force imaging.
размер области сканирования (зависит от установленного сканера)	150×150×5 мкм — сканер J 0.5×0.5×0.5 мкм — сканер A
разрешение	10 Ангстрем (сканер J)
разрешение	атомарное (сканер A)

Сканирующий зондовый микроскоп Digital Instruments NanoScope III (Veeco)