Разработан в 2005 г. для ВНИИТФ г. Снежинск

Микроскоп создан для исследования облученных образцов.

В этом микроскопе реализованы радиационно-стойкие (при невысоком радиационном фоне) режимы туннельной и атомно-силовой микроскопии, что позволяет работать с быстро окисляющимися и диэлектрическими материалами, в частности, актинидами. Достигнута простота и удобство работы оператора: для смены АСМ-кантилевера или СТМ-иглы нет необходимости вынимать микроскоп из камеры, достаточно вставить кассету, в которой находится заранее настроеные и отюстированные игла или кантилевер с лазерной системой. Диапазон увеличений микроскопа до 1 млн. крат и надежное разрешение на уровне 10-20 Å.

Модель атомно силового микроскопа Актинид-М. Размер по горизонтали: 250×250 мм.

АСМ-изображение поверхности окисленного металла. Размер кадра 200×200 нм.

Характеристики микроскопа:

• Режимы: СТМ и АСМ
• Диапазон размеров образца — от 5/5/2 мм до 25/25/15 мм
• Поле кадра — до 10/10 мкм
• Глубина кадра — 2 мкм, не требует полировки образца
• Разрешение до 1 Ангстрема по вертикали и до 30 Ангстрем по латерали
• Встроенная виброподвеска, устойчивая при закладке образца
• Кассета для пяти АСМ/СТМ зондов для установки на сканер
• Каретка захвата и подачи образца к сканеру
• Герметизация микроскопа для защиты от радиационных загрязнений
• Радиоканал для дистанционного управления микроскопом
• Встроенный процессор с программным обеспечением
• Система питания от внутрикамерной сети 220 В