Разработан в 2005 г. для ВНИИТФ г. Снежинск
Микроскоп создан для исследования облученных образцов.
В этом микроскопе реализованы радиационно-стойкие (при невысоком радиационном фоне) режимы туннельной и атомно-силовой микроскопии, что позволяет работать с быстро окисляющимися и диэлектрическими материалами, в частности, актинидами. Достигнута простота и удобство работы оператора: для смены АСМ-кантилевера или СТМ-иглы нет необходимости вынимать микроскоп из камеры, достаточно вставить кассету, в которой находится заранее настроеные и отюстированные игла или кантилевер с лазерной системой. Диапазон увеличений микроскопа до 1 млн. крат и надежное разрешение на уровне 10-20 Å.
|
Модель атомно силового микроскопа Актинид-М.
Размер по горизонтали: 250×250 мм. |
|
АСМ-изображение поверхности окисленного металла.
Размер кадра 200×200 нм. |
Характеристики микроскопа:
- Режимы: СТМ и АСМ
- Диапазон размеров образца — от 5/5/2 мм до 25/25/15 мм
- Поле кадра — до 10/10 мкм
- Глубина кадра — 2 мкм, не требует полировки образца
- Разрешение до 1 Ангстрема по вертикали и до 30 Ангстрем по латерали
- Встроенная виброподвеска, устойчивая при закладке образца
- Кассета для пяти АСМ/СТМ зондов для установки на сканер
- Каретка захвата и подачи образца к сканеру
- Герметизация микроскопа для защиты от радиационных загрязнений
- Радиоканал для дистанционного управления микроскопом
- Встроенный процессор с программным обеспечением
- Система питания от внутрикамерной сети 220 В
|