atom-scale.itep.ru   контактная информация
Радиационная физика и химия конденсированных сред
Атомно-силовой микроскоп Актинид-М для перчаточной камеры
     
    Структура отдела
    Наука
Оборудование
Проекты, гранты
Конференции
Публикации
Образование
    Ссылки
     
     

Разработан в 2005 г. для ВНИИТФ г. Снежинск

Микроскоп создан для исследования облученных образцов.

В этом микроскопе реализованы радиационно-стойкие (при невысоком радиационном фоне) режимы туннельной и атомно-силовой микроскопии, что позволяет работать с быстро окисляющимися и диэлектрическими материалами, в частности, актинидами. Достигнута простота и удобство работы оператора: для смены АСМ-кантилевера или СТМ-иглы нет необходимости вынимать микроскоп из камеры, достаточно вставить кассету, в которой находится заранее настроеные и отюстированные игла или кантилевер с лазерной системой. Диапазон увеличений микроскопа до 1 млн. крат и надежное разрешение на уровне 10-20 Å.

 

Атомно силовой микроскоп для перчаточной камеры

 

АСМ-изображение поверхности окисленного металла в режиме атомно силового микроскопа

 

Характеристики микроскопа:

  • Режимы: СТМ и АСМ
  • Диапазон размеров образцаот 5/5/2 мм до 25/25/15 мм
  • Поле кадрадо 10/10 мкм
  • Глубина кадра2 мкм, не требует полировки образца
  • Разрешение до 1 Ангстрема по вертикали и до 30 Ангстрем по латерали
  • Встроенная виброподвеска, устойчивая при закладке образца
  • Кассета для пяти АСМ/СТМ зондов для установки на сканер
  • Каретка захвата и подачи образца к сканеру
  • Герметизация микроскопа для защиты от радиационных загрязнений
  • Радиоканал для дистанционного управления микроскопом
  • Встроенный процессор с программным обеспечением
  • Система питания от внутрикамерной сети 220 В
 
     

© 2005—2008 ФГУП ГНЦ РФ Институт теретической и экспериментальной физики
© 2005—2008 Отдел Радиационной физики и химии конденсированных сред